SDDL-2014高壓電纜故障（zhàng）探測儀簡介 係統組成 由測試係統、路徑信號產生（shēng）器、路徑信號（hào）接收器和（hé）定位儀器幾部分組成，可完成電纜故障的測試和電纜資料的管理兩項任務。 筆記本電腦進行測量控製、數據處理和電纜資料（liào）管（guǎn）理。 故障測試係統與筆記本配合可在故障電纜（lǎn）一端測出故障點距測試端的距離，也可（kě）用來測量電纜的長度和電波在電纜中的傳播速度。 路徑信號產生器可產生15KHZ、zui大幅度30V的斷續正弦波信號，用於尋測電纜路（lù）徑。 路徑信號接收器用來接收路徑信號，查（chá）找電纜走向和估測電纜埋（mái）設深度。 定位儀用於故障點的*定（dìng）位。 SDDL-2014高壓電纜故障探測儀（yí）技術性能（néng） ●高壓電纜故障探測儀可測試各種電力電纜的各類故障及通信電纜和市話電纜的開路、短路故障。 ●高（gāo）壓電纜故障探測（cè）儀可測量（liàng）長度已（yǐ）知的任（rèn）何電纜中電（diàn）波傳播的速（sù）度。 ●測試距離：不小於40千米 ●係統誤差：小於（yú）0.5米 ●采樣頻率：25MHz ●測試盲（máng）區：小（xiǎo）於5米 ●電源：交流220V±10％ 2、路徑儀信號產生器。 ●信號頻（pín）率（lǜ）：15KHz ●振蕩方式：斷續 ●輸出功率：30W ●電（diàn）源（yuán）：220V±10％ 定位儀 測試靈敏度：50Ω內阻的信號源輸出300Hz信號，定點儀（yí）在維持輸（shū）出為2V、信雜（zá）比優於20：1的（de）情況下輸入（rù）信號不大（dà）於10 μV。 ●輸入阻抗：不小於1.2KΩ。 ●使用2×2000Ω耳機。 ●工作（zuò）電壓：9V±10％。 ●使用環境（jìng）溫度：-10℃～40℃ 按下控製（zhì）麵板上的控製開關，啟動工控機。後打開電源開關，啟動WindowsXP後，雙擊桌麵上的測試（shì）管理係統，屏幕顯示主（zhǔ）控界麵如右圖。（如使用外接筆 記本則不要打開控製開關，將USB線插入下側USB接口，則可控測試係（xì）統。）上側USB是內置工控機數據輸入輸出接口<按“測試”按鈕進入測試方 式；按“管理”按鈕進入電纜資料和測試資料的日常管理；按“幫（bāng）助”進入幫助（zhù）係統；按（àn）“結（jié）束”退出測試管理係統。 一部（bù）分 電纜（lǎn）故障測試 一、測試原理 本儀器采用時域反射（TDR）原理，對被測電纜發射一係列電（diàn）脈衝，並接收電纜中因阻抗變（biàn）化引起的（de）反射脈衝，再根據電波在電纜（lǎn）中的（de）傳播速度和兩（liǎng）次（cì）反射波的特征拐（guǎi）點代表的時間，可測出故障（zhàng）點到測試端的距離為： S=VT/2 式中：S代表故（gù）障（zhàng）點到測試端的距離 V代表（biǎo）電波在電纜中的傳播速度 T代表電波在電纜中來回傳播所需要的時間 這樣，在（zài）V已知（zhī）和T已經測出的情況下，就可計算出故障（zhàng）點距測試。端的距離S 。這一切隻需稍加人工幹預，就可由計算機自動（dòng）完成，測試故障迅速準（zhǔn）確（què）。 二（èr）、SDDL-2014高壓電纜故障探測儀測試係統控製麵板（bǎn）介紹 測試麵板可分為四部分：菜單欄、狀態欄、圖形顯示區、功能鍵區。 １、菜單欄 菜單欄包括：“數據管理（lǐ）”和“測試幫助”兩個菜（cài）單項。 “數據（jù）管理”菜單：包括“打（dǎ）印”，“讀（dú）盤（pán）”，“存盤”，“結束”四個菜單項（xiàng）。 選擇“打印”可將屏幕顯示內容用打印機打印出來；選“存盤（pán）”可將測試的波形和數據存儲於電腦的（de）硬盤或者軟盤（pán）中，作（zuò）為資料保（bǎo）存；選“讀（dú）盤”可調出以前測試時存在磁盤內的波形；選“結束”可退出該控製麵（miàn）板。 “測試幫助”：點擊該菜單（dān），可顯示測（cè）試管理係統（tǒng）的使用說明書，可打印輸出（chū）。 2、狀態欄 狀態欄裏顯示四個方麵的信息，zui左邊是測試方式；**個是選擇的電纜介質所對應電波速（sù）度（若是測速度，則不顯示介質信息）第三個是故障距離（或電纜長度），右邊顯示測試日期。3、圖形顯示區 圖形顯示區用來顯示采樣（yàng）所得的波形，對波形進行分析處理和顯示（shì）處理結果。 4、功能（néng）鍵區 功能鍵區由14個按鍵組成，可分為三類。 初始化數據：包括測試方法和介質選擇兩個鍵。 測試（shì）方法（fǎ）：有兩種選擇，“測（cè）故障”和“測速度”。 基本的測試方法有三種， “低壓脈衝（chōng）”，“衝閃”，“直閃”。 “低（dī）壓脈衝”包括有（yǒu）“2μs”和“0.2μs”兩種脈寬可選（xuǎn）擇；“衝閃”包（bāo）括“電感電壓取樣”，“電阻（zǔ）電壓取樣”，“電流取（qǔ）樣”三個菜單項；“直閃”包括“電壓取（qǔ）樣”“電流取樣”兩個菜（cài）單（dān）項。 介質（zhì）選擇： 程序初始化時（shí）設置為：“油浸（jìn）紙型”，如果是其他（tā）介質的電纜，可根據電纜的（de）介質選擇。共（gòng）有（yǒu）五選（xuǎn）項：“油浸（jìn）紙（zhǐ）型”，“不滴流型”，“交聯乙烯”，“聚（jù）氯乙烯”，“自選介質”五個菜單項 。 選擇其中一個菜單項就等於選擇一種速度（dù），即電波在該電纜中的傳播速度（dù）。 數據采樣與測（cè）試：共（gòng）有八（bā）個按鍵。 “采樣”鍵：在係統測試時采用。每按動一次“采樣”鍵，係統便采集一次數據，並可以在圖形顯示區繪出波（bō）形圖來。 “擴展”鍵：為了*計算故障（zhàng）距離，按此鍵（jiàn）可將顯示的波（bō）形擴展（zhǎn）後（hòu）再（zài）計算。每按一次波形擴展一倍，按四次為一個循環。 “卷動”鍵：波形擴展後，故（gù）障點特征波形可能會出於*屏以外的其它屏（píng）內，按此鍵可將顯示（shì）內容一屏一屏（píng）地向左（zuǒ）移動，直到故障波形在（zài）屏顯（xiǎn）示出來，便在（zài）光標*定位（wèi）。 “歸位”鍵：需要光標（biāo）快速回到屏幕zui左端時（shí）按此鍵。 “定位”鍵：計算距離起點鍵。在光標移動到特征波形的起始拐點處按此（cǐ）鍵。 “左移”鍵和“右（yòu）移”鍵：這兩個鍵用於控製光標的左右移動（dòng）。當按動它們時，遊標移動，每按一次移動（dòng）一個單位。此外，為了（le）快速移（yí）動遊標，可以用鼠標拖動遊標（biāo），到合適的位（wèi）置鬆開即可。 “複（fù）位”鍵：係統複（fù）位鍵。無論係統處於何種狀態（tài），按此鍵均可進入係統主界麵。 波形比較：有四個鍵。 “儲存”鍵（jiàn）：按（àn）此鍵（jiàn）可將測試的波形和數據存儲於電腦中。（“存儲（chǔ）”與“存盤”不同（tóng）。“存盤”是將數據存儲在磁盤上，可長期保存，而“存儲”隻是將數據存儲在電腦內存中，關機後數據（jù）會丟（diū）失。） “調用”鍵：與“存儲”鍵配合使用。按此鍵可在屏幕（mù）上顯示（shì）上次存儲的內容，以便分（fèn）析與計算。 “比較”鍵：按此鍵可將（jiāng）現測的波形和儀器內存（cún）儲的波形同時顯示在屏幕上，用戶可對這兩幅波形進行比較分析。 “平移”鍵：按此鍵進入圖形左右移動功能，點“左移”鍵可將兩個波形的起點對齊。