電纜（lǎn）故障綜合測（cè）試儀（yí）

SDDL-2014電纜故障綜合測（cè）試儀簡介
係統（tǒng）組（zǔ）成 
由測試係統、路徑信號（hào）產（chǎn）生器、路徑信號接（jiē）收（shōu）器和定位儀器幾部分組成，可完成電纜故障的測試和電纜資料的管理兩（liǎng）項任務。
筆（bǐ）記本電腦進行測量（liàng）控製、數據處理和電纜資料（liào）管理。
故障測試係統（tǒng）與筆記本配（pèi）合可在故障電纜一端測出故障點距測試端的距（jù）離，也可用來測量電纜的長度和電波在電纜中的傳播速度。
路徑信（xìn）號（hào）產生器可產生15KHZ、zui大（dà）幅度30V的斷（duàn）續正弦波信號，用於尋測電纜路徑。
路徑信號接收器用來接收路徑信號，查找電（diàn）纜走向和估測電纜埋設深（shēn）度。
定（dìng）位儀用於故障點的*定位。

SDDL-2014電纜故障（zhàng）綜合測試儀技術性（xìng）能（néng）
●電纜（lǎn）故障綜合測試儀（yí）可測試各種電力電纜（lǎn）的各類（lèi）故障及通（tōng）信電纜和（hé）市話電纜的開路、短路故障。 
●電纜故障綜合測試儀（yí）可測量長度已知的任何電纜中電波傳播的速度。
●測試距離：不小於40千米 
●係統誤差：小於（yú）0.5米 
●采樣頻率：25MHz 
●測試（shì）盲區：小於5米 
●電源：交流220V±10％
2、路徑儀信（xìn）號產生（shēng）器。
●信（xìn）號頻率：15KHz 
●振蕩方式：斷續
●輸（shū）出功率：30W
●電（diàn）源：220V±10％ 
定位（wèi）儀
測試靈敏度：50Ω內（nèi）阻的信號源輸出（chū）300Hz信號，定（dìng）點儀在（zài）維持輸出為2V、信雜比優於20：1的情況（kuàng）下輸入信號不（bú）大於（yú）10 μV。 
●輸入阻抗：不小於1.2KΩ。  ●使用（yòng）2×2000Ω耳機（jī）。 
●工作電壓：9V±10％。  ●使用環境溫度：-10℃～40℃ 

按下控製麵板上的控（kòng）製開關，啟動工控機。後（hòu）打開電源開關（guān），啟動WindowsXP後，雙擊（jī）桌麵上的測試管理係統（tǒng），屏幕顯示主控界麵如右圖。（如使用外接筆 記本則不要打開（kāi）控製開關，將USB線插（chā）入下側USB接口，則可控測試係統。）上側USB是內置工控（kòng）機數據輸入輸（shū）出接口<按（àn）“測試”按鈕進入測試方 式；按“管理”按鈕進入電纜資料和測試資料的日常管（guǎn）理；按“幫助”進入幫助係統；按“結束”退出測試管理係統。
一部分 電纜故障測試
一、測試原理
本儀器采用時域（yù）反射（TDR）原理，對被測電纜發射一係列電脈衝，並接收（shōu）電纜中因阻抗變化引起的反射脈衝，再根據電波在電纜中的傳（chuán）播速度和兩次反射波的特征拐點代表的時間，可測出故障點到測試端的距離為：
S=VT/2
式中：S代表故障點到測試（shì）端的距離
V代表電波在電纜中（zhōng）的傳播速度
T代表電波在電（diàn）纜中來（lái）回傳播所需要的（de）時間
這樣，在V已知和（hé）T已經測出的（de）情況下，就可計算出故障點距測試（shì）。端（duān）的距離S 。這一切隻需（xū）稍加人工幹預，就可由計（jì）算（suàn）機自動完成，測試故障迅速準確。
二、SDDL-2014電纜故障綜合測試儀測試係統控製麵板介紹
測試麵板可分為四（sì）部分：菜單欄、狀（zhuàng）態欄、圖形顯示區、功能鍵區。
１、菜單欄
菜單欄包（bāo）括：“數據管理”和“測（cè）試幫助”兩個菜單項。
“數據管理”菜單：包括（kuò）“打印”，“讀盤”，“存盤”，“結束”四個菜單項。
    選擇（zé）“打印”可將屏幕顯示（shì）內容（róng）用打印機（jī）打印出來；選“存盤”可將測試的波形和數據存儲於電（diàn）腦的硬盤或者軟盤中，作為資料保（bǎo）存；選“讀（dú）盤”可調出以前測試時存（cún）在磁盤內的波形；選“結束”可退出該控製麵板（bǎn）。
“測試幫助”：點擊該菜單，可顯示測試管理（lǐ）係統的使用（yòng）說明書，可打印輸出。
2、狀態欄
狀態欄裏顯示四（sì）個方麵的信息（xī），zui左邊是測試方式；**個（gè）是選擇的電纜介質所對（duì）應電（diàn）波速度（若是（shì）測速度，則不顯示介質信息）第三個是故障距離（lí）（或電纜（lǎn）長（zhǎng）度），右（yòu）邊顯（xiǎn）示測試日期。3、圖形顯示區
圖形顯示區用來（lái）顯示采（cǎi）樣（yàng）所得的波形，對波形進行分析處理和（hé）顯示處理結果。
4、功能鍵區
功能鍵區由14個按鍵組成，可分為三類。
初始化數據：包括測試方法和介質選擇兩個鍵。
測（cè）試方法：有兩種選擇，“測故障”和“測速度”。
基本的測試方法有三種， “低壓脈衝”，“衝閃”，“直閃”。
“低壓脈衝”包括有“2μs”和“0.2μs”兩種脈寬可選擇；“衝閃”包括“電感電壓取樣”，“電阻電壓（yā）取樣”，“電（diàn）流取樣”三個菜單項；“直（zhí）閃”包括“電壓取樣”“電流取樣”兩個菜單項。
介質選擇：
程序初始化時設置為：“油浸紙（zhǐ）型”，如果是其（qí）他介質的電纜，可根據電纜的介質（zhì）選擇。共有五選項：“油浸紙型”，“不滴（dī）流型（xíng）”，“交聯乙烯”，“聚氯乙烯”，“自選介質”五個菜單項 。
選擇其中一（yī）個（gè）菜單項就等於選擇一種速度，即電波在該電纜中的傳（chuán）播速度。
數據采樣（yàng）與測試：共有八個按鍵。
“采（cǎi）樣”鍵：在係統測試時采用。每按（àn）動一次“采樣”鍵，係統便采集一次數據，並可以在圖形顯示區繪出波形圖來。
“擴展”鍵（jiàn）：為（wéi）了（le）*計算故障距（jù）離，按此鍵可將顯示的波形擴展後再計算。每按一次波形擴（kuò）展一倍，按四次為一個（gè）循環。
“卷動”鍵：波形擴展後，故（gù）障點特征波形可能會出於*屏以外的其它屏內，按此鍵可將顯示內容一屏一屏地向左移動，直（zhí）到（dào）故障波形在屏顯示出來，便在光（guāng）標*定位。
“歸（guī）位”鍵：需要光標快速回到屏（píng）幕zui左端時按此鍵。
“定位”鍵：計（jì）算距離（lí）起點鍵。在光標移動到特（tè）征波形的起始拐點處按此鍵。
“左移”鍵和“右移”鍵：這兩個鍵用於控製光標（biāo）的左右移動。當按動它們時，遊（yóu）標移（yí）動，每按一次移動一個單位（wèi）。此外，為（wéi）了快速移動遊標，可（kě）以用鼠標拖動（dòng）遊標（biāo），到合適的位置鬆開即可。
“複（fù）位（wèi）”鍵：係統複位鍵。無論係統（tǒng）處於何種狀態，按此（cǐ）鍵均可進入係統主界麵（miàn）。
波形比較：有四個鍵。
“儲存”鍵：按此鍵可將測試的（de）波形和數據存儲於電腦中。（“存儲”與“存（cún）盤”不同。“存盤”是將數據存儲在（zài）磁盤上，可（kě）長期保存，而“存儲”隻是將數據存儲在電腦內存中，關機後數據會丟失。）
“調用”鍵：與“存儲”鍵配合（hé）使用。按此鍵可在屏幕上顯（xiǎn）示上次存儲（chǔ）的（de）內（nèi）容，以便分析（xī）與計算（suàn）。
“比較（jiào）”鍵：按此鍵可將現測的波形和儀器內存儲的（de）波形同時顯示在屏幕上（shàng），用戶可對這（zhè）兩幅波形進行比較分析。
“平（píng）移”鍵：按此鍵進（jìn）入圖（tú）形（xíng）左（zuǒ）右移動（dòng）功能，點“左移”鍵可將兩個波形的起點對齊。

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