如果（guǒ）您對該產（chǎn）品感興（xìng）趣的話,可以
產品名稱（chēng）:
超（chāo）聲波探傷測試儀
產品型號:
LYTC-II
產（chǎn）品（pǐn）展商:
其它品牌
簡單介紹
超聲波探傷測（cè）試儀能夠快速、無損傷、精準地進行工件內部多種缺（quē）陷如裂紋、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折（shé）疊等的（de）檢（jiǎn）測、定位及對缺陷的定量和（hé）定性，超聲波（bō）探傷測（cè）試儀廣泛應用於電力、石化、鍋爐壓力容器、鋼結構（gòu）、** 、航空航（háng）天、鐵路交通、汽車、機（jī）械等領域（yù）。
超聲波探傷測試儀的詳細介紹
一、超聲波探（tàn）傷測試儀產品描述
超聲波探（tàn）傷測試儀設計、製造經驗而研（yán）製的更新換代產品，能夠快速、無損傷（shāng）、精準（zhǔn）地進行工（gōng）件內部多（duō）種缺陷如裂紋（wén）、焊縫、 氣孔、砂眼、夾雜、折疊等的檢測、定位及對缺陷的定量和定性，廣泛應用於電力、石化、鍋爐壓力容器（qì）、鋼結構、** 、航空航天、鐵路交通、汽車、機械等領域。
超聲波探傷測試儀是上海來揚電氣科技有限公司自主研發（fā）生產，為高新型產品，該產品已通過上海市計量測試研究院等權威計量單位的認證，是各大電力部門、企事業單位、試驗室及施（shī）工單位值（zhí）得購買（mǎi）的好產品！
二、超聲（shēng）波探傷測試儀行業標準
超聲波（bō）探傷測試儀涉及到的超聲波探傷國家標（biāo）準和行業標準有：
GB/T 12604.1-2005 無（wú）損檢測 術語 超聲檢測
JB/T 10061-1999 A型脈衝反射式超聲探傷儀（yí）通用技術條件
JJG 746-2004 超聲探傷儀檢定規程
GB/T 11345-1989鋼焊縫手工超聲（shēng）波探傷方法和探傷結（jié）果（guǒ）分級
JB/T 4730.3-2005 承壓設備無損檢測 第3部分：超聲檢測
JG/T 203-2007鋼結構超聲波探傷及質量分級法，代替JG/T 3034-1996
SY/T 4109-2005 石油天然氣鋼製（zhì）管道無損檢測，代替SY/T 0443-1998，SY/T 0444-1998，SY/T 4056-1993，SY/T 4065-1993
三、超聲波探傷測試儀功能特點:
1.*新開發的、采（cǎi）用國內業界（jiè）優越的（de）可調方波激勵技術，內置帶（dài）有可調節選項的高性能“方波脈衝發生器”，實現與探（tàn）頭的*佳匹配，對檢測高衰減材料或厚工件具有優良的穿透力（lì）和信噪比；而對（duì）檢測薄工件和（hé）複合材料又有（yǒu）高的分辨率。
2.先進的電路設計，采用12bits 80MHz采樣片，配合5.7"TFT （640x480）高分辨率彩色液晶顯示屏，確保（bǎo）能快速、準確地對缺陷的回（huí）波（bō）信號進行（háng）顯示和分（fèn）析，對各種弱小信號的變化和細節都能（néng）及時響應，回波信號的實時性和真（zhēn）實性得到有效的保證，對缺陷（xiàn）性質的（de）分（fèn）析和判斷極為有利。（下圖為全波顯示和射頻顯示）
3.支持動態錄像功能（néng），可記錄4個動態記錄文件，每個文件（jiàn）可（kě）以以（yǐ）16幀/秒的速度記錄2分鍾實時（shí）波形。可外（wài）接U盤存貯到4個文件，每個文件半個小時，通道（dào）保存、通道存（cún）儲菜單化操作，大大方便數據的分析存儲（見下圖）。
4.支持灰度B掃功能（néng），可（kě）顯示截麵（miàn）灰度B掃（sǎo）描，一個屏幕顯示豐富信息量，可用於簡單TOFD應用。（下圖為灰度B掃功（gōng）能顯示圖）
5.豐富的波形凍結功能，波形凍結功能包（bāo）括峰值（zhí）顯示、波形比較、波形包絡等功能，還具有（yǒu）定時釋放能力，大大方便用戶（hù）操作。
6.機器（qì）嚴格符合歐（ōu）標En12668-1的標準要求。
7.內置國（guó）內主要4個探傷（shāng）標準（zhǔn），可直接通過（guò）選取標準、試塊、探傷等級自動設置DAC曲線（xiàn）的三線偏移量，內帶“美國鋼結構焊接規範焊縫分級AWS D1.1”評定標準（zhǔn），使檢測更加得心應手，方便現場使（shǐ）用。（下（xià）圖為DAC曲線圖）
四、探傷功能
1.波峰記憶：實時檢索缺陷（xiàn）*高波，標定缺（quē）陷*大值
2.實用AVG：實用AVG曲線、自動換算缺陷φ值（zhí）(X>3N，N為近場距離)
3.動態記錄：檢測實時（shí）動態記錄波形（xíng），存儲、回放
4.缺陷定位：實顯（xiǎn）水（shuǐ）平值P、深度值D、聲程值S
5.缺（quē）陷定量：實顯SL定量值（DAC曲線實時定量（liàng））
6.缺陷定性：通過包絡波形，人工經驗判斷
7.曲麵修正：曲麵工件探傷，修正曲率換算
8.灰度B掃描：實時掃查，描述缺陷橫切麵
五、技術參數
|
測量單位
|
mm、inch、ms
|
|
掃描範圍（mm）
|
零界麵入射～10000
|
|
聲速調節（m/s）
|
600～16000
|
|
探頭延遲（μs）
|
-1.000～750.000
|
|
顯（xiǎn）示（shì）延遲（μs）
|
-20～ 3400
|
|
工作（zuò）方式
|
單（dān）探頭、雙（shuāng）探頭、透射（shè）
|
|
波形顯示方式
|
A掃描顯示、灰度B掃描顯示、AB掃描同時顯示
|
|
脈衝發（fā）生器
|
|
脈衝形式
|
模擬方波
|
|
發射電源（V）
|
100～400，10V步距（jù）可調（diào）
|
|
發射脈寬（ns）
|
75、100～500，50ns步距可（kě）調（diào）
|
|
探（tàn）頭阻尼(Ω)
|
50、100、200、500
|
|
發射重複頻率(Hz)
|
10～1000
|
|
接收器
|
|
增益（dB）
|
0～110 分（fèn）0.1、0.2、0.5、1.0、2.0、6.0、12.0可調
|
|
總帶（dài）寬（MHz）
|
0.5～20
|
|
檢波方式
|
正半波、負半波、全波（bō）、射頻
|
|
垂直線性誤差
|
±2%
|
|
放大器精度（dB）
|
±1
|
|
抑製（%）
|
屏高（gāo）的0～80
|
|
采樣速率（MHz）
|
單片80 12bits
|
|
發（fā）射串擾抑製（dB）
|
≥80
|
|
動態範圍（dB）
|
≥40
|
|
瞬時分（fèn）辨力（dB）
|
≥32
|
|
水平線性誤差
|
≤0.1%
|
|
靈敏度餘量
|
≥62dB
|
|
測量
|
|
測量（liàng）閘門
|
2個獨立測（cè）量閘門
|
|
檢測方（fāng）式
|
邊沿、峰值
|
|
閘門測量
|
回波（bō）的幅值、聲程、深度、投影（yǐng）等
|
|
凍（dòng）結
|
凍結方式有：全（quán）凍結、峰值（zhí）、比較、包絡等方式
|
|
AVG當量計算
|
根據缺陷回波和AVG曲線（xiàn）自動（dòng）計算缺陷當量評估
|
|
DAC缺（quē）陷定量
|
根據缺陷回波和DAC 曲線對缺陷進行評估
|
|
閘門邏輯
|
關、測量、進波報警、失波報警
|
|
閘門報警
|
關、即時、保持.2s、保持.5s、保持1s、保持（chí）2s、鎖存
|
|
報警蜂鳴
|
關、開（kāi）
|
|
數據管理，通信及打印
|
|
數（shù）據存儲
|
50個探傷參（cān）數通道（dào）記錄
|
|
1000幅波形圖
|
|
（包括（kuò）980幅A掃描（miáo）波形和20幅（fú）B掃描波形）
|
|
4x2000幀（zhēn）的動態波（bō）形
|
|
數據管理
|
實現對通道、波形、動態記錄的存（cún）儲、查看、回（huí）放操作
|
|
上述均可存儲到本地（dì）或U盤
|
|
通信
|
通過USB接口與PC機通信
|
|
輸出接口
|
|
USB OTG接口
|
USB2.0 Device 與PC機通訊接口
|
|
USB2.0 Host 接U盤
|
|
其它
|
|
產品重量（kg）
|
約1.6
|
|
產品（pǐn）外型尺寸（cùn）（mm）
|
300×180×58（不帶遮光罩）
|
|
工作（zuò）溫度（dù）（℃）
|
-10～ 50
|
|
存儲溫度（℃）
|
-20～ 60
|
|
語言
|
英語、中文
|
|
探頭（tóu）連接
|
LEMO 或BNC
|
|
電池容量（mAh）
|
聚合物電池2×3.7V 5000mAh
|
|
電池工作時（shí）間（h）
|
不低於8
|
|
充電時間（h）
|
不超過8
|
|
電源適配器
|
輸入（rù）100-240～50/60Hz
|
|
輸出9V DC/3 A～4A
|